Advanced Ta-Based Diffusion Barriers for Cu Interconnects

Advanced Ta-Based Diffusion Barriers for Cu Interconnects

Oprawa miękka2009 m.102 s. Dostawa w ciągu 3-4 tygodni
222,00 zł231,00 zł-3%
Obecnie niedostępnyPodaj swój adres e-mail, a powiadomimy Cię, gdy książka znów będzie dostępna, zwykle w ciągu 3-4 tygodni.
14 dni na zwrotZmieniłeś zdanie? Możesz anulować zamówienie w dowolnym momencie lub zwrócić je w ciągu 14 dni. Zasady zwrotów

O książce

Advanced Ta-Based Diffusion Barriers for Cu Interconnects by Rene Hubner.

Published by Nova Science Publishers, (2008), Paperback, 102 pages.

Topics: Electrodiffusion, Integrated circuits, Interconnects (Integrated circuit technology), Diffusion.

AutorRene Hubner
WydawnictwoNova Science Publishers Inc
Rok wydania2009 m.
JęzykAngielski
Liczba stron102 psl.
FormatOprawa miękka
ISBN9781604564518

Ostatnio oglądane