Electron Microscopy and Analysis
1.173,00 zł1.180,00 zł-0%
Obecnie niedostępnyPodaj swój adres e-mail, a powiadomimy Cię, gdy książka znów będzie dostępna, zwykle w ciągu 3-4 tygodni.
14 dni na zwrotZmieniłeś zdanie? Możesz anulować zamówienie w dowolnym momencie lub zwrócić je w ciągu 14 dni. Zasady zwrotów
O książce
A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.
| Autor | Peter J. Goodhew |
|---|---|
| Wydawnictwo | Taylor & Francis Ltd |
| Rok wydania | 2017 m. |
| Język | Angielski |
| Liczba stron | 264 psl. |
| Format | Oprawa twarda |
| Wydanie | 3 ed |
| ISBN | 9781138441538 |
