Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
958,00 zł1.026,00 zł-6%
Obecnie niedostępnyPodaj swój adres e-mail, a powiadomimy Cię, gdy książka znów będzie dostępna, zwykle w ciągu 3-4 tygodni.
14 dni na zwrotZmieniłeś zdanie? Możesz anulować zamówienie w dowolnym momencie lub zwrócić je w ciągu 14 dni. Zasady zwrotów
O książce
Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches by Muthukumaran Malarvel, Soumya Ranjan Nayak, Prasant Kumar Pattnaik, Surya Narayan Panda.
Published by Wiley & Sons, Limited, John, (2021), Hardback, 352 pages.
| Autor | Muthukumaran Malarvel |
|---|---|
| Wydawnictwo | John Wiley & Sons Inc |
| Rok wydania | 2021 m. |
| Język | Angielski |
| Liczba stron | 352 psl. |
| Format | Oprawa twarda |
| Wydanie | Volume 2 |
| ISBN | 9781119786092 |