• Book cover of: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. By: Ireneusz Mrozek

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Ireneusz Mrozek

244,00 zł
244,00 zł 254,00 zł Sprzedaż

Mamy to na stanie

Prekės šiuo metu neturime
Palikite el. paštą ir pranešime iškart, kai prekė vėl atsiras sandėlyje.
Autorius Ireneusz Mrozek
Kalba Anglų k.
Leidimo metai 2018 m.
Puslapių skč. 135 psl.
Viršelis Kietas viršelis
ISBN 9783319912035
Leidimas 1st ed. 2019

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

Book cover of: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. By: Ireneusz Mrozek

Multi-run Memory Tests for Pattern Se...

244,00 zł
244,00 zł 254,00 zł